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LC - Liquid Chromatography
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LEED - Low Energy Electron Diffraction
Mit LEED werden Anordnungen von Atomen in dünnen Schichten oder an Oberflächen im Vakuum untersucht. Dabei wird mit Elektronen geringer Energie die Schicht „durchleuchtet“, und das durch die Streuung der Elektronen entstehende Beugungsmuster auf einem Fluoreszenzschirm sichtbar gemacht.
LEEM - Low Energy Electron Microscopy
Bei der LEEM wird ein Elektronenmikroskop benutzt, um eine stark vergrößerte Abbildung eines Werkstücks zu erhalten. Im Gegensatz zum normalen Elektronenmikroskop haben die Elektronen in diesem Fall jedoch nur eine sehr geringe Energie, und können deswegen auch nur sehr wenig in das untersuchte Material eindringen. Die Methode ist aus diesem Grund sehr spezifisch für die Untersuchung von Oberflächen.
LIBS - Laser Induced Breakdown Spectroscopy
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LIF - Laser-Induced Fluorescence
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LOES - Laser Optical Emission Spectroscopy
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LS - Light Scattering
Bei der statischen Lichtstreuung wird nicht zeitaufgelöst, sondern gemessen, sondern die Streuintensität als Funktion des Winkels bestimmt. Während für Partikel, die kleiner als die Wellenlänge des Lichtes sind, die Streuintensität nicht vom Winkel abhängig ist, findet man für größere Partikel eine Beziehung zwischen Streuwinkel und Intensität. Durch die Messung der winkelabhängigen Streuintensität kann daher die Partikelgröße (oder das Molekulargewicht), bzw. ihre Verteilung bestimmt werden.
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